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摘要：一种测试结构及测试方法，其中测试结构包括：基底；位于所述基底上的待测第一导电层，所述待测第一导电层内具有若干第一隔断；位于所述基底上相互平行排列的多个待测第二导电层，每个所述待测第二导电层内均具有若干第二隔断，且至少一个待测第二导电层与待测第一导电层电连接；位于所述基底上相互平行排列的若干第一导电层，每个所述第一导电层与待测第二导电层电连接；与所述待测第一导电层电连接的第一测试端；与一个所述第一导电层电连接的第二测试端。通过所述测试结构进行测试，以满足对不同待测导电层内的电连接和电隔断进行测试，以满足晶圆可接受测试需求。
主权项：1.一种测试结构，其特征在于，包括：基底；位于所述基底上的待测第一导电层，所述待测第一导电层内具有若干第一隔断；位于所述基底上相互平行排列的多个待测第二导电层，每个所述待测第二导电层内均具有若干第二隔断，且至少一个待测第二导电层与待测第一导电层电连接；位于所述基底上相互平行排列的若干第一导电层，每个所述第一导电层与待测第二导电层电连接；与所述待测第一导电层电连接的第一测试端；与一个所述第一导电层电连接的第二测试端；所述待测第一导电层在所述待测第二导电层上层，或者所述待测第一导电层在所述待测第二导电层下层；所述待测第一导电层与所述待测第二导电层通过第一插塞电连接；所述待测第二导电层在所述第一导电层上层，或者所述待测第二导电层在所述第一导电层下层；各所述待测第二导电层与各第一导电层通过第二插塞电连接；相邻待测第二导电层内的第二隔断，沿垂直于待测第二导电层延伸方向上的中线不重合。
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