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摘要：本发明提供一种精确测试芯片检流比例及等效阻抗的电路，包括芯片，包括误差放大器、比较器、电流采样管、逻辑驱动模块、功率上管和功率下管；外围有源器件，包括两个电压源和电流源，两个电压源分别接芯片VIN、FB引脚，电流源接芯片SW、PGND引脚；以及电压电流采样模块，包括三个电压采样模块和电流采样模块，用于获取芯片VIN、SW引脚和ATEST引脚电压，以及VIN引脚端电流。本发明的电路采用开环静态测试，无需外部无源器件，在静态测试下开关管不用频繁开关断，解除了对芯片和测试设备响应速度的依赖，大大降低芯片测试的误差和复杂度，提高批量测试结果和测试效率。

主权项：1.一种精确测试芯片检流比例及等效阻抗的电路，其特征在于包括：芯片，包括误差放大器EA、比较器CMP、电流采样管Mhsns、逻辑驱动模块CLD、功率上管Mhpwr和功率下管Mlpwr；所述误差放大器EA的反向比例输入端作为芯片FB引脚接电压源Vsource2，所述误差放大器EA的同向比例输入端接基准电平Vref，误差放大器EA的输出端接MOS管的栅极，MOS管的源极串接电阻Rs后接地，漏极串接电流采样管Mhsns后接输入电压VIN，所述误差放大器EA的输出端、MOS管漏极与电流采样管Mhsns的连接点分别串接开关S1、S2后并接作为芯片测试ATEST引脚，所述MOS管漏极与电流采样管Mhsns的连接点接比较器CMP的同相端，比较器CMP的输出端接逻辑驱动模块CLD的输入端，逻辑驱动模块CLD的输出分别接功率上管Mhpwr和功率下管Mlpwr，所述的功率上管Mhpwr的源极作为芯片VIN引脚，功率上管Mhpwr和功率下管Mlpwr的漏极相连作为芯片SW引脚，所述功率下管Mlpwr的源极作为芯片PGND引脚接地；外围有源器件，包括电压源Vsource1、电压源Vsource2和电流源Iload，所述电压源Vsource1、电压源Vsource2分别接芯片VIN引脚、FB引脚，所述电流源Iload接芯片SW引脚和PGND引脚；以及电压电流采样模块，包括电压采样模块一、电压采样模块二、电压采样模块三和电流采样模块，分别用于获取芯片VIN引脚、SW引脚和ATEST引脚电压，以及VIN引脚端电流。

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