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摘要：本发明公开了一种芯片老化测试装置，其包括有一体化底座，多个夹具，所述夹具设于所述一体化底座上方，所述一体化底座中设有多个芯片放置区；所述夹具包括有可导电的电极片，所述电极片的左前端设有第一凸出部，所述电极片的右前端设有第二凸出部，待测芯片设于所述芯片放置区内；通过所述第一凸出部、第二凸出部将相邻的两个待测芯片串联。通过本发明的技术方案，大大减少了芯片老化测试装置中第一探针的使用数量进一步也提高COS芯片的散热性能。
主权项：1.一种芯片老化测试装置，其特征在于,包括有一体化底座以及多个夹具，所述夹具设于所述一体化底座上方，所述一体化底座中设有多个芯片放置区；所述夹具包括有可导电的电极片，所述电极片的左前端设有第一凸出部，所述电极片的右前端设有第二凸出部，待测芯片设于所述芯片放置区内；通过所述第一凸出部、第二凸出部将相邻的两个待测芯片串联；所述芯片放置区和所述待测芯片数量均为n，其中n=2；所述夹具的数量均为n+1；所述串联是指将第一个待测芯片的芯片正极与第一个所述夹具中的电极片右前端对应，此后第n-1个所述待测芯片的正极与第n-1个所述夹具中的电极片右前端对应，第n-1个所述待测芯片的负极与第n个所述夹具中的电极片左前端与对应，直到第n个所述待测芯片的负极与第n+1个所述夹具中的电极片左前端对应，其中第一个所述夹具中的电极片左前端和第n+1个所述夹具中的电极片右前端均空置；所述老化测试用装置还设有第一探针、弹簧压力组件以及水冷装置，所述第一探针具有两组，且分别设于第1个夹具的上方和第n+1个夹具的上方；所述老化测试用装置还设有第二探针，且所述第二探针设于所述夹具上方；所述弹簧压力组件设于所述夹具上方；所述水冷装置内具有用于容纳冷却液体的流动通道。
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百度查询： 武汉永力睿源科技有限公司 一种芯片老化测试装置
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