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摘要：一种芯片及芯片测试方法。所述芯片测试方法包含以下步骤：由编码电路输出多个测试序列至多个扫描链；由多个扫描链依据多个测试序列产生多个扫描输出数据；以及由解码电路依据多个扫描输出数据判断多个扫描链是否存在错误。
主权项：1.一种芯片测试方法，包含：由一编码电路输出多个测试序列至多个扫描链；由所述多个扫描链依据所述多个测试序列产生多个扫描输出数据；以及由一解码电路依据所述多个扫描输出数据判断所述多个扫描链是否存在错误，其中该编码电路还用以接收多个扫描输入数据，并依据所述多个扫描输入数据以及至少一检查数据以产生所述多个测试序列，其中所述多个扫描输出数据包含一最大长度，其中该芯片测试方法还包含：由一补位电路对所述多个扫描输出数据进行补位处理，以产生长度相同的多个补位后数据；以及由该补位电路进行补位处理以使所述多个扫描输出数据的长度相等于该最大长度。
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百度查询： 瑞昱半导体股份有限公司 芯片及其测试方法
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