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摘要：本发明公开了一种应用于安全芯片的差分错误分析测试方法和系统，涉及信号分析传送领域，本发明通过采集多个差分信号线对的特征数据，对多个特征因素进行叠加综合分析，提高了分析的精准性；通过构建最终KNN分类模型，为后续分析提供了分类工具，简化了分析过程；通过对待分析安全芯片的特征数据进行分类，可以判断出待分析安全芯片是否存在差分错误，若存在，则可以及时进行调节；通过调节待分析安全芯片的特征数据，从而对待分析安全芯片的差分错误进行修正；将调节后的待分析安全芯片的特征数据与调节前的待分析安全芯片的特征数据进行对比，分析出待分析安全芯片的差分错误的出现原因。
主权项：1.一种应用于安全芯片的差分错误分析测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采集多个差分信号线对的特征数据；S2、采集所述多个差分信号线对的电感差数据、电容差数据、差分阻抗数据和信号延时数据并计算平均值，得到第二数据均值矩阵；对所述第二数据均值矩阵进行聚类操作，得到差分数据级别标签集；S3、根据所述差分数据级别标签集以及多个差分信号线对的特征数据，对多个差分信号线对的差分数据级别标签进行构建，得到初始差分数据级别标签数据集；根据多个差分信号线对的特征数据以及初始差分数据级别标签数据集构建最终KNN分类模型；S4、获取待分析安全芯片上差分信号线对的特征数据，得到初始综合数据集；采用所述最终KNN分类模型对初始综合数据集进行分类，得到第二初始差分数据级别标签数据；根据所述第二初始差分数据级别标签数据判定是否需要对所述初始综合数据集进行调节；S5、根据对初始综合数据集调节的结果对待分析安全芯片的差分错误进行分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国标准化研究院 一种应用于安全芯片的差分错误分析测试方法和系统
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