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摘要：本发明涉及相位噪声分析技术领域，具体公开了一种相位噪声分析仪及相位噪声分析方法，包括待测源信号模块、参考源信号模块、第一信号处理支路、第二信号处理支路、第三信号处理支路、第四信号处理支路、第一相位差计算模块与第二相位差计算模块，第一信号处理支路包括第一模数转换单元，第二信号处理支路包括第二模数转换单元，第三信号处理支路包括第三模数转换单元，第四信号处理支路包括第四模数转换单元，第一模数转换单元和第二模数转换单元设于同一芯片中；第三模数转换单元和第四模数转换单元设于同一芯片中。本发明首次考虑了电路的分布噪声影响，利用电路分布噪声的相关性，能够有效的移除分布噪声，明显的提升系统的测量能力。

主权项：1.一种相位噪声分析仪，其特征在于，所述相位噪声分析仪包括待测源信号模块、参考源信号模块，以及第一信号处理支路、第二信号处理支路、第三信号处理支路、第四信号处理支路和第一相位差计算模块与第二相位差计算模块，其中：所述待测源信号模块输出第一待测信号和第二待测信号，所述参考源信号模块输出第一参考信号和第二参考信号；所述第一信号处理支路包括相连的第一模数转换单元和第一变频信号处理单元，所述第一参考信号输入所述第一模数转换单元，并从所述第一变频信号处理单元输出至所述第一相位差计算模块；所述第二信号处理支路包括相连的第二模数转换单元和第二变频信号处理单元，所述第一待测信号输入所述第二模数转换单元，并从所述第二变频信号处理单元输出至所述第一相位差计算模块；所述第三信号处理支路包括相连的第三模数转换单元和第三变频信号处理单元，所述第二待测信号输入所述第三模数转换单元，并从所述第三变频信号处理单元输出至所述第二相位差计算模块；所述第四信号处理支路包括相连的第四模数转换单元和第四变频信号处理单元，所述第二参考信号输入所述第四模数转换单元，并从所述第四变频信号处理单元输出至所述第二相位差计算模块；所述第一相位差计算模块用于根据所述第一信号处理支路和所述第二信号处理支路的信号计算相位差；所述第二相位差计算模块用于根据所述第三信号处理支路和所述第四信号处理支路的信号计算相位差；所述第一模数转换单元和所述第二模数转换单元设于同一芯片中，所述第三模数转换单元和所述第四模数转换单元设于同一芯片中，所述第一模数转换单元和所述第三模数转换单元设于不同芯片中；或者，所述第一模数转换单元、所述第二模数转换单元、所述第三模数转换单元和所述第四模数转换单元设于同一芯片中；所述第一信号处理支路的噪声分量包括第一参考信号的相位噪声φREF、第一模数转换单元的相位噪声φADC1、第一模数转换单元的电路周边的分布噪声第一模数转换单元采样时钟的相位噪声φCLK；所述第二信号处理支路的噪声分量包括第一待测信号的相位噪声φDUT、第二模数转换单元的相位噪声φADC2、第二模数转换单元的电路周边的分布噪声第二模数转换单元采样时钟的相位噪声φCLK；第一残留相位噪声为所述第三信号处理支路的噪声分量包括第二待测信号的相位噪声φDUT、第三模数转换单元的相位噪声φADC3、第三模数转换单元的电路周边的分布噪声第三模数转换单元采样时钟的相位噪声φCLK；所述第四信号处理支路的噪声分量包括第二参考信号的相位噪声φREF、第四模数转换单元的相位噪声φADC4、第四模数转换单元的电路周边的分布噪声第四模数转换单元采样时钟的相位噪声φCLK；第二残留相位噪声为当所述第一模数转换单元和所述第三模数转换单元设于不同芯片中时，所述第一残留相位噪声和所述第二残留相位噪声的值趋近于零；当所述第一模数转换单元和所述第三模数转换单元设于同一芯片中时，所述第一残留相位噪声和所述第二残留相位噪声的值达到最小值；根据所述第一信号处理支路和所述第二信号处理支路的信号计算相位差φ12，以及根据所述第三信号处理支路和所述第四信号处理支路的信号计算相位差φ34，相位差φ12为相位差φ34为将所述相位差φ12和所述相位差φ34变换到频域；得到Φ12＝ΦDUT-ΦREF+ΦADC1+ΨADC1-ΦADC2-ΨADC2；Φ34＝ΦDUT-ΦREF+ΦADC3+ΨADC3-ΦADC4-ΨADC4；令X＝Φ12，Y＝Φ34，则Φ12和Φ34互相关计算得到互功率谱为其中，T为测量周期，E[·]为期望值计算，X*f为Xf的复共轭运算；当有m个测量值时，互功率谱为·m表示对m个测量值进行平均；假定ΦREF、ΦDUT、ΦADC1、ΦADC2、ΦADC3、ΦADC4为相互独立的，ΨADC1、ΨADC2、ΨADC3、ΨADC4为强相关的，则SYXm为： 其中，是期望的互相关值； 是电路分布参数引入的误差。

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