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摘要:本发明公开了一种逐次逼近闪存模数转换器及其运算方法,属于半导体CMOS超大规模集成电路中的存内计算技术领域。本发明逐次逼近闪存模数转换器一次操作完成N1比特的粗量化,通过N2步量化,对输入信号VIN进行粗量化再细量化,逐步缩短量化步长,每次量化的输出精度为N1比特,直至达到灵敏放大器的失调电压限制,即完成了NN=N1*N2比特的量化。本发明数字控制逻辑简单,并且避免了二进制电容阵列的使用,其面积和功耗小于同精度的FlashADC和SARADC。
主权项:1.一种逐次逼近闪存模数转换器,其特征在于,包含一个VREF产生单元、个逐次逼近闪存模数模块、数字控制模块,逐次逼近闪存模块由1个灵敏放大器、1个Boost电容和1个2N1-1选1多路选择器,灵敏放大器的正端连接输入电压,基准电压VREF直接通过开关连接至灵敏放大器的负端,或通过开关连接Boost电容的左侧,2N1-1选1多路选择器将需要抬升的电压连接至Boost电容的右侧对Boost电容进行充电,在比较的相位时切开与Boost电容的连接,Boost电容的右侧连接至比灵敏放大器的负端。灵敏放大器用于比较两个电压大小并输出比较结果,若待测电压比当前VREF[i]大,则输出高电平“1”,若待测电压比当前VREF[i]小,则输出低电平“0”;2N1-1选1多路选择器根据比较得到的OUT[N1:1],并选择合适的下步的量化基本电压,将此电压存储在Boost电容中,在下步比较时抬升灵敏放大器的参考电压VREF,个逐次逼近闪存模数模块一次比较得到个温度计码个“0”或者“1”;数字控制模块包括温度计解码器和比特拼接模块,温度计解码器将单次操作输出的个温度计码转换为二进制编码OUT[N1:1],比特拼接模块将N2步操作得到的二进制编码整合,得到最终的NN=N1×N2比特输出。
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