买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：中国海洋大学

申请日：2024-12-04

公开（公告）日：2025-01-03

公开（公告）号：CN119247360A

专利技术分类：...使用合成孔径技术[2006.01]

专利摘要：本发明属于微波遥感观测技术领域，涉及一种用于星载一维综合孔径微波辐射计的分辨率增强方法，步骤包括：计算星载一维综合孔径微波辐射计对应于不同间隔基线的谐波基函数；获得一维综合孔径微波辐射计阵列地面视场重叠数量；结合一维综合孔径微波辐射计阵列采集的可见度样本，将其更新为在沿轨方向携带高精度信息的可见度样本；通过反演算法求解高精度亮温值。本发明利用BG启发的星载一维综合孔径微波辐射计分辨率增强方法进行沿轨方向的分辨率增强，不需要额外借助其他的高分辨率数据，借助实孔径微波辐射计分辨率提升思想，通过充分利用自身数据在沿轨方向的信息冗余，显著提高了星载一维综合孔径微波辐射计在沿轨方向的分辨率。

专利权项：1.一种用于星载一维综合孔径微波辐射计的分辨率增强方法，其特征在于，包括以下步骤：根据星载一维综合孔径微波辐射计的天线排布、天线的方向图矩阵计算不同间隔基线的谐波基函数；利用星载一维综合孔径微波辐射计的配置参数、飞行高度、装配角度，选取截断阈值，求得星载一维综合孔径微波辐射计阵列在地面视场的重叠数量；结合星载一维综合孔径微波辐射计阵列采集的可见度样本，采用公式（1）获取在沿轨方向携带高精度信息的可见度样本： （1）其中，n代表地面视场的重叠数量，m代表重叠视场的序数，m≤n，代表对应于系数的第m个权重系数；代表对应于系数处的可见度样本的存在视场重叠的第m个样本；代表对应于系数处沿轨方向携带高精度信息的可见度样本；代表方向余弦坐标，对应于坐标张成空间中目标场景亮温信息，代表对应于第m个基函数的余弦坐标中的横坐标，代表对应于第m个基函数的余弦坐标中的纵坐标，代表对应于系数处的谐波正交基函数；权重系数满足约束条件： ；权重系数通过最小化总体误差获得： ；其中，代表拟合误差， ； 代表方差，；表示维度参数，表示噪声调谐参数；代表归一化谐波基函数，由公式进行归一化，以保证满足代表目标谐波基函数，满足代表归一化的目标谐波基函数，由公式进行归一化，以保证右上角标代表转置，代表由测量误差的协方差矩阵；利用获取的高精度可见度样本，结合反演算法，进行亮温重构，输出高精度亮温值。

百度查询： 中国海洋大学 一种用于星载一维综合孔径微波辐射计的分辨率增强方法