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放射线检测装置、放射线检测系统及放射线检测方法专利

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申请/专利权人:浜松光子学株式会社

申请日:2023-02-03

公开(公告)日:2025-01-21

公开(公告)号:CN119343613A

专利技术分类:..用半导体探测器[2006.01]

专利摘要:本发明的X射线检测相机具备:放射线检测元件,其将入射的X射线直接转换成电荷,且将对多个第3电极中的每个收集电荷的结果作为X射线图像数据输出;第1偏置电源,其对放射线检测元件施加偏置电压;及控制部。控制部具有:判定部,其执行判定处理,该判定处理基于X射线图像数据,判定是否可执行以不由放射线检测元件收集电荷的方式执行对放射线检测元件的电压控制的重设动作;及电压控制部,其在通过判定部判定可执行重设动作的情况下,以执行重设动作的方式控制电压源。

专利权项:1.一种放射线检测装置,其中,具备:检测元件,其将入射的放射线直接转换成电荷,且将对多个像素电极中的每个收集所述电荷的结果作为摄像图像数据输出;电压源,其对所述检测元件施加偏置电压;及控制部,其电连接于所述检测元件及所述电压源,所述控制部具有:判定部,其执行判定处理,该判定处理基于自所述检测元件输出的所述摄像图像数据,判定是否可执行以不由所述检测元件收集所述电荷的方式执行对所述检测元件的电压控制的重设动作;及电压控制部,其在通过所述判定部判定可执行所述重设动作的情况下,以执行所述重设动作的方式控制所述电压源。

百度查询: 浜松光子学株式会社 放射线检测装置、放射线检测系统及放射线检测方法

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