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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日：2024-12-26
公开（公告）日：2025-01-24
公开（公告）号：CN119354507A
专利技术分类：.光学性质测试[2006.01]
专利摘要：本发明属于光子集成干涉成像技术领域，尤其涉及一种光子集成干涉成像系统的重构像质评价方法。方法包括：S1：根据光子集成干涉成像系统的参数，对光子集成干涉成像系统的离散化调制传递函数进行计算；S2：利用光子集成干涉成像系统对原始图像进行图像采集，获得重构图像；S3：利用高斯金字塔依次对原始图像和重构图像进行多分辨率分解，获得原始图像组和重构图像组；S4：将原始图像组和重构图像组各自包含的具有相同分辨率的图像进行互信息计算；S5：根据步骤S1和步骤S4的计算结果实现对光子集成干涉成像系统的像质评价。本发明基于空域和频域两个测度对光子集成干涉成像系统的重构像质进行客观评价，弥补了单一维度的评价缺失。
专利权项：1.一种光子集成干涉成像系统的重构像质评价方法，其特征在于：具体包括如下步骤：S1：根据光子集成干涉成像系统的参数，对光子集成干涉成像系统的离散化调制传递函数进行计算；S2：利用光子集成干涉成像系统对原始图像进行图像采集，获得重构图像；S3：利用高斯金字塔依次对原始图像和重构图像进行多分辨率分解，获得原始图像组和重构图像组；S4：将所述原始图像组和所述重构图像组各自包含的具有相同分辨率的图像进行互信息计算；S5：根据步骤S1和步骤S4的计算结果实现对光子集成干涉成像系统的像质评价。
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 光子集成干涉成像系统的重构像质评价方法
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