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龙图腾网恭喜广东美联新材料股份有限公司申请的专利一种基于塑料制品的光学深度和反照率的计算方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119669612B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-27发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510138865.2，技术领域涉及：G06F17/10；该发明授权一种基于塑料制品的光学深度和反照率的计算方法是由牛家嵘;林子健;张朝凯;黄坤煜;刘建勇;罗梓博;杨永卿;周裕愷;姚金波设计研发完成，并于2025-02-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于塑料制品的光学深度和反照率的计算方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于塑料制品的光学深度和反照率的计算方法，包括以下步骤：步骤S1：将试样放置于黑色、白色基底下，并通过测色仪测得白色和黑色基底下的反射率R白、R黑，并计算差值ΔR；步骤S2：依照设定环境参数，构建试样在该环境下的光路分析模型，获得各光路的辐射强度；步骤S3：通过步骤S2中测得的参数，分别计算反射率、一次透射率和二次透射率，同时计算光学深度，步骤S4：根据步骤S3所得的光学深度，计算试样在设定环境参数下的反照率，本发明将光学深度和反照率应用在了塑料制品的配色上，利用设定的环境参数以及反射率来计算光学深度和反照率，本发明提供了塑料制品配色时的两个新指标，同时为神经网络深度学习提供可靠的特征参数。

本发明授权一种基于塑料制品的光学深度和反照率的计算方法在权利要求书中公布了：1.一种基于塑料制品的光学深度和反照率的计算方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：将试样放置于黑色基底和白色基底下，并通过测色仪测得白色基底下的反射率R白以及黑色基底下的反射率R黑，并计算R黑和R白之差ΔR；步骤S2：依照设定环境参数和反射情况，构建试样在该环境下的光路分析模型，获得该光路分析模型下各光路的辐射强度，所述光路分析模型中的各光路包括：入射光辐射强度A0、一次反射光辐射强度A1、一次透射光辐射强度A2、入射光经散射后再反射光的辐射强度A3、入射光经过散射后再透射光的辐射强度A4、入射光经基底反射后的光辐射强度A5、基底反射光在试样表面再反射光的辐射强度A6、基底反射光进入试样后的透射光的辐射强度A7、基底反射光进入试样后的透射光再折射回基底的光辐射强度A8、基底反射光进入试样后的折射光经过二次折射后的辐射强度A9；步骤S3：通过步骤S2中测得的参数，分别计算反射率、一次透射率和二次透射率，同时结合步骤S1所得ΔR计算光学深度，具体算式如下： T1=T2=Tau=其中，R为反射率、T1为一次透射率、T2为二次透射率、Tau为光学深度、A0为入射光辐射强度、A2为一次透射光辐射强度、A4为入射光经过散射后再透射光的辐射强度；步骤S4：根据步骤S3所得的光学深度，计算试样在设定环境参数下的反照率，具体算式如下： 其中，Ω为反照率、R为反射率、A1为一次反射光辐射强度A1、A0为入射光辐射强度、R白为试样在白基底下的反射率、T为透射率。

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