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校验方法及校验装置专利

发布时间:2018-11-28 09:55:59 来源:龙图腾网 导航: 龙图腾网> 最新专利技术> 校验方法及校验装置

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申请/专利权人:华为技术有限公司

申请日:2012-10-31

公开(公告)日:2013-02-06

公开(公告)号:CN102916781A

专利技术分类:

专利摘要:本发明实施例公开了一种校验方法及校验装置。该校验方法包括:接收并行数据,所述并行数据的字节数为X,所述并行数据的位宽为Y个字节,X为正整数,Y为正整数;采用循环冗余校验CRC电路对所述并行数据进行运算,获得第一CRC值;比较所述第一CRC值与第二CRC值是否相同,所述第二CRC值为对第一数据执行CRC获得的CRC值,所述第一数据为在第二数据的尾部添加M个字节的数据得到的数据,所述第二数据为在第三数据的尾部添加第三CRC值得到的数据,所述第三CRC值为所述第三数据的CRC值,M等于Y减去X除以Y的余数;若所述第一CRC值与所述第二CRC值相同,则确定所述并行数据通过CRC。该技术方案只需要一个CRC电路。相对于现有技术该技术方案所需的硬件资源较少。

专利权项:一种校验方法,其特征在于,包括:接收并行数据,所述并行数据的字节数为X,所述并行数据的位宽为Y个字节,X为正整数,Y为正整数;采用循环冗余校验CRC电路对所述并行数据进行运算,获得第一CRC值;比较所述第一CRC值与第二CRC值是否相同,所述第二CRC值为对第一数据执行CRC获得的CRC值,所述第一数据为在第二数据的尾部添加M个字节的数据得到的数据,所述第二数据为在第三数据的尾部添加第三CRC值得到的数据,所述第三CRC值为所述第三数据的CRC值,M等于Y减去X除以Y的余数;若所述第一CRC值与所述第二CRC值相同,则确定所述并行数据通过CRC。

百度查询: 华为技术有限公司 校验方法及校验装置

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