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申请/专利权人：上海和辉光电有限公司
申请日：2014-07-16
公开（公告）日：2014-10-08
公开（公告）号：CN104089878A
专利技术分类：.便于进行光学测试的装置或仪器[2006.01]
专利摘要：本发明公开了一种透射仪，其包括光源；设置于所述光源后方的聚光反射装置；设置于所述光源前方的信号收集装置；在所述信号收集装置和所述光源之间设置有聚光装置。本发明的技术方案采用低成本的卤素灯作为光源，这样可以避免氙灯价格过高的问题。而采用卤素灯作为光源会影响透射仪的信噪比，为了解决信噪比的问题本发明的技术方案中包含一个聚光装置。聚光装置的采用可以将卤素灯发出的光线集中于被透射的样品，这样可以有效解决由于卤素灯作为光源时透射仪信噪比过低的问题。
专利权项：一种透射仪，其特征在于，包括：光源；设置于所述光源后方的聚光反射装置；设置于所述光源前方的信号收集装置；在所述信号收集装置和所述光源之间设置有聚光装置。
百度查询： 上海和辉光电有限公司 透射仪
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