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利用T-T错配的DNA探针荧光测定汞离子浓度的方法专利

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申请/专利权人:上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心;上海海洋大学食品学院

申请日:2011-04-13

公开(公告)日:2011-09-28

公开(公告)号:CN102200510A

专利技术分类:...荧光;磷光[2006.01]

专利摘要:本发明涉及汞离子浓度的检测分析领域,公开了一种利用T-T错配的DNA探针荧光测定汞离子浓度的方法,其特征在于,所述方法以含有T-T错配的DNA探针作为汞离子的识别元件,以DNA双链嵌入剂SYBRGREENI为荧光信号分子,利用所述SYBRGREENI与所述含有T-T错配的DNA探针单双链结合时荧光信号强度的差异,对待测样品中的汞离子浓度进行荧光检测。本发明方法不会对环境产生污染,对汞离子选择性好,能够排除大多数金属离子的干扰,具有成本低、灵敏度高、检测快速等优点。

专利权项:1.一种利用T-T错配的DNA探针荧光测定汞离子浓度的方法,其特征在于,所述方法以含有T-T错配的DNA探针作为汞离子的识别元件,以DNA双链嵌入剂SYBR GREEN I为荧光信号分子,利用所述SYBR GREEN I与所述含有T-T错配的DNA探针单双链结合时荧光信号强度的差异,对待测样品中的汞离子浓度进行荧光检测;其中,所述SYBR GREEN I的结构式如下化学式I所示:I其中,所述含有T-T错配的DNA探针的序列为:DNA探针1:5′-CTCTTTCTC-3′;DNA探针2:5′-GTGTTTGTG-3′。

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