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测定计、测定装置、测定系统及测定方法专利

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申请/专利权人:株式会社堀场先进技术

申请日:2023-02-01

公开(公告)日:2024-09-17

公开(公告)号:CN118661090A

专利技术分类:..防止光学装置的部件的沾污或光路的障碍[2006.01]

专利摘要:本发明的测定计具备:圆筒状的单元,其容纳测定流体;光源,其配置于单元的外侧,并向测定流体照射检查光;检测器,其配置于单元的外侧,并对从测定流体产生的透射光或散射光进行检测;清洗机构,其配置于单元的内侧,并对单元的内周面进行清洗;以及驱动机构,其使单元绕中心轴旋转。

专利权项:1.一种测定计,其特征在于,具备:圆筒状的单元,其容纳测定流体;光源,其配置于所述单元的外侧,并向测定流体照射检查光;检测器,其配置于所述单元的外侧,并对从测定流体产生的透射光或散射光进行检测;清洗机构,其配置于所述单元的内侧,并对所述单元的内周面进行清洗;以及驱动机构,其使所述单元绕中心轴旋转。

百度查询: 株式会社堀场先进技术 测定计、测定装置、测定系统及测定方法

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