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申请/专利权人：中国工程物理研究院流体物理研究所
申请日：2006-09-16
公开（公告）日：2009-08-26
公开（公告）号：CN100533114C
专利技术分类：..通过爆炸产生的[2006.01]
专利摘要：本发明专利公开一种全波剖面测试系统，用于测试研究在高温高压等极端条件下，材料内部和自由面速度快速变化的所谓波剖面变化过程。本发明的系统包括位移干涉仪、速度干涉仪、光纤环行器，光束分离器和大芯径光纤分束器，可以同时测试波剖面变化过程。本发明的系统集中了两种干涉仪的功能和优点，测试结果互相补充和校对，可以得到较为完全的波剖面测试结果。本发明可用于军工、材料科学、天体物理、地球物理等领域。
专利权项：1.一种全波剖面测试系统，其特征在于：所述系统包括位移干涉仪、速度干涉仪、用来分离位移干涉仪中输出激光和返回信号光的光纤环行器、大芯径光纤分束器、光束分离器，以及外围设备；外围设备包含光电转换记录系统和探头；位移干涉仪采用光纤激光器，速度干涉仪采用固体激光器；其连接关系是：光纤环行器一侧的两端口分别和光纤激光器及位移干涉仪的输入端口相连接，另一侧的端口和大芯径光纤分束器的一侧的两端口之一相连接；光束分离器把固体激光器输出的激光经光纤引向大芯径光纤分束器同一侧的另一个端口；大芯径光纤分束器另一侧的端口又通过光纤把光纤激光器和固体激光器输出的激光引向探头，照明被测样品，并接收返回的信号光，由大芯径光纤分束器分光，分别送回位移干涉仪和速度干涉仪；所述的大芯径光纤分束器采用直径为100～900微米的光纤。
百度查询： 中国工程物理研究院流体物理研究所 全波剖面测试系统
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