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申请/专利权人：株式会社爱宕
申请日：2003-10-29
公开（公告）日：2007-01-17
公开（公告）号：CN1896719A
专利技术分类：..折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N21/21优先）[2006.01]
专利摘要：一种用于测定试样折射率的折射计，其包括：一个棱镜，具有与所述试样相接触的界面；一个光源，用于从棱镜的射入表面向界面射入光；以及一个光电传感器，用于接收在所述界面反射并从棱镜的射出表面向外射出的光。该光源和该光电传感器固定在棱镜上。该折射计包括一个配置在所述界面表面周围的试样台，该试样台设有在其表面上形成的非粘着性涂层。该折射计包括配置在所述界面表面和所述光电传感器之间的滤光装置，该滤光装置包括一个波长滤光器，其能选择性地允许传输具有在给定区域内的波长包括光源的光的波长在内的光。
专利权项：1.一种折射计，其包括：一个棱镜，其具有为试样提供界面的界面表面；一个试样台，其配置在所述界面表面的周围；其中，所述试样台包含非粘着性涂层。
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