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申请/专利权人:东芝三菱电机产业系统株式会社
申请日:2007-06-18
公开(公告)日:2009-07-01
公开(公告)号:CN101473224A
专利技术分类:
专利摘要:通过除去被测材料的表面附着的氧化膜,来确实地实施无损结晶粒径测量。为此在测定时,首先,向从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光的照射位置,从表面除去装置照射激光,除去轧制产品的另一侧表面的氧化膜。除去了轧制产品的另一侧表面的氧化膜后,从超声波振荡器对轧制产品的一侧表面照射激光,使得在轧制产品的另一侧表面发生超声波振荡。然后,通过从超声波检测器对轧制产品的另一侧表面照射激光,并利用超声波检测器接收来自轧制产品的另一侧表面的反射光,从而检测在轧制产品的另一侧表面发生的超声波振荡,根据超声波检测器的检测结果,算出轧制产品的结晶粒径。
专利权项:1.一种组织材质测定装置,是测定经过轧制线的轧制产品的组织材质的组织材质测定装置,其特征在于,具备:对所述轧制产品的一侧表面照射激光、使得在所述轧制产品的另一侧表面发生超声波振荡的超声波振荡器;通过对所述轧制产品的另一侧表面照射激光并接收来自所述轧制产品的另一侧表面的反射光、检测在所述轧制产品的另一侧表面发生的超声波振荡的超声波检测器;根据所述超声波检测器的检测结果、计算所述轧制产品的结晶粒径的粒径计算装置;以及向从所述超声波检测器对所述轧制产品的另一侧表面照射激光的照射位置照射激光、以除去所述轧制产品的另一侧表面的氧化膜的表面除去装置。
百度查询: 东芝三菱电机产业系统株式会社 组织材质测定装置及组织材质测定方法
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