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申请/专利权人：中国科学院深圳先进技术研究院
申请日：2020-09-04
公开（公告）日：2020-11-17
公开（公告）号：CN111948426A
专利技术分类：.AFM〔原子力显微术〕或其设备，例如AFM探针[2010.01]
专利摘要：本发明提供了一种弯曲度获取方法、弯曲度测试设备、弯曲度调节装置，弯曲度调节装置包括底板、载台、升降机构、第一压板及第二压板，载台、升降机构均与底板固定连接，第一压板、第二压板均与升降机构固定连接，载台位于第一压板与第二压板之间，柔性薄膜夹设于载台与第一压板、第二压板之间，升降机构带动第一压板、第二压板朝底板运动并下压柔性薄膜的两端，以调节柔性薄膜的弯曲度。本发明提供的弯曲度调节装置通过升降机构带动第一压板、第二压板朝底板运动并下压柔性薄膜的两端，通过调节柔性薄膜的两端的下压程度来调节柔性薄膜的弯曲度，再通过探测器来获得柔性薄膜在不同弯曲半径下的微观结构和性能，从而实现原位测试和弯曲度可调。
专利权项：1.一种弯曲度调节装置，用于调节柔性薄膜的弯曲度，其特征在于，所述弯曲度调节装置包括底板、载台、升降机构、第一压板及第二压板，所述载台、升降机构均与所述底板固定连接，所述第一压板、第二压板均与所述升降机构固定连接，所述载台位于所述第一压板与所述第二压板之间，柔性薄膜夹设于所述载台与所述第一压板、第二压板之间，所述升降机构带动所述第一压板、第二压板朝所述底板运动并下压所述柔性薄膜的两端，以调节所述柔性薄膜的弯曲度。
百度查询： 中国科学院深圳先进技术研究院 弯曲度获取方法、弯曲度测试设备、弯曲度调节装置
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