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申请/专利权人：深圳市航顺芯片技术研发有限公司
申请日：2021-09-15
公开（公告）日：2021-12-31
公开（公告）号：CN113866596A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本申请公开了一种功耗测试方法、功耗测试设备及存储介质；所述功耗测试方法，应用于功耗测试设备，所述功耗测试设备包括控制模块，功耗测试方法包括：所述控制模块响应于针对待测芯片触发的功耗测试操作，获取所述待测芯片关联的测试脚本集；所述控制模块根据所述待测芯片的型号，在所述待测芯片关联的测试脚本集中确定目标测试脚本；所述控制模块设定所述待测芯片对应的测试温度，并触发所述待测芯片进入至预设低功耗模式，根据所述目标测试脚本测试所述待测芯片在测试温度下的功耗。因此，可以提高芯片的测试效率。
专利权项：1.一种功耗测试方法，应用于功耗测试设备，其特征在于，所述功耗测试设备包括控制模块，所述功耗测试方法包括：所述控制模块响应于针对待测芯片触发的功耗测试操作，获取所述待测芯片关联的测试脚本集；所述控制模块根据所述待测芯片的型号，在所述待测芯片关联的测试脚本集中确定目标测试脚本；所述控制模块设定所述待测芯片对应的测试温度，并触发所述待测芯片进入至预设低功耗模式，根据所述目标测试脚本测试所述待测芯片在测试温度下的功耗。
百度查询： 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 功耗测试方法、功耗测试设备及存储介质
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