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申请/专利权人：太原理工大学
摘要：本发明属于非线性光学测量技术领域，提供了一种基于STM32的显微P‑Scan自动测量系统。解决了现有显微测量系统手动测量，导致实验精度差的问题。包括测量光路和控制单元；衰减盘通过步进电机搭载；无线通讯模块用于接收上位机发来的运动指令，并向步进电机驱动板发送脉冲信号，步进电机驱动板接收到脉冲信号后向步进电机提供驱动电流，步进电机带动衰减盘转动相应的角度，以达到实验所要求的入射功率；功率探头CMOS图像传感器均与上位机连接通讯。本发明测量用时短且测量精度高。
主权项：1.一种基于STM32的显微P-Scan自动测量系统，其特征在于：包括测量光路和控制单元；测量光路包括激光器（1）、小孔（2）、衰减盘（3）、分束镜（4）、样品（5）、功率探头（6）和CMOS图像传感器（7），激光器（1）发出的激光经反射镜I（8.1）反射，通过小孔（2）后经衰减盘（3）改变入射功率，依次经反射镜II（8.2）、分束镜（4）和物镜（9）到达样品（5）上的平整区，经样品（5）透射后的激光经滤波片（10）和透镜I（11.1）会聚于功率探头（6）处，同时经样品（5）反射后的激光依次经物镜（9）、分束镜（4）、透镜II（11.2）、透镜III（11.3）在CMOS图像传感器（7）处成像；衰减盘（3）通过步进电机（12）搭载；其中衰减盘（3）用于改变激光的入射功率，功率探头（6）用于检测经样品（5）透射后的出射功率，CMOS图像传感器（7）用于观察激光在样品（5）上的位置，以确保激光位于样品（5）上的平整区域；控制单元包括控制器和上位机，其中控制器包括主控芯片、步进电机驱动板和无线通讯模块，无线通讯模块用于接收上位机发来的运动指令，并向步进电机驱动板发送脉冲信号，步进电机驱动板接收到脉冲信号后向步进电机（12）提供驱动电流，步进电机（12）带动衰减盘（3）转动相应的角度，以达到实验所要求的入射功率；功率探头（6）CMOS图像传感器（7）均与上位机连接通讯。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 太原理工大学 基于STM32的显微P-Scan自动测量系统
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