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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要：本发明提供了一种PIND试验夹具及TO同轴类未封盖器件的试验方法，属于微电子器件测试技术领域，包括底座和盖板，底座上设有用于未封盖器件的引脚伸出的定位孔；盖板盖合在底座上，使管帽封装在未封盖器件；盖板上设有用于器件管帽伸出的通孔，盖板设有压紧管帽的压紧台。本发明提供的PIND试验夹具，在器件未封盖的状态下进行PIND检测，及时检测出器件内部是否含有自由粒子，并对含有多余物的器件内部进行及时处理，能够有效的提高后续筛选过程中的PIND合格率，减少器件的浪费，提高器件的可靠性。
主权项：1.一种PIND试验夹具，其特征在于，包括底座2和盖板1，所述底座2上设有用于未封盖器件4的引脚伸出的定位孔21；所述盖板1盖合在所述底座2上，使器件的管帽3封装在所述未封盖器件4；所述盖板1上设有用于器件管帽3伸出的通孔11，所述盖板1设有压紧所述管帽3的压紧台。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第十三研究所 PIND试验夹具及TO同轴类未封盖器件的试验方法
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