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申请/专利权人：瑞萨电子株式会社
申请日：2023-06-05
公开（公告）日：2024-01-05
公开（公告）号：CN117347365A
专利技术分类：..测试瑕疵、缺陷或污点的存在[2006.01]
专利摘要：本公开涉及视觉检查装置和视觉检查方法。视觉检查装置包括其上放置有具有盖的FCBGA型半导体封装的台架、位于台架上方的相机、位于相机和台架之间的同轴照明设备、位于相机和台架之间的倾斜照明设备，以及控制设备。控制设备被配置为由同轴照明设备和倾斜照明设备利用照明光线照射FCBGA型半导体封装，由相机捕获FCBGA型半导体封装以获取捕获图像，通过捕获图像的二值化过程来整合预定像素值的像素的数目以获取判定值，并且比较判定值与预定值以确定非缺陷产品或缺陷产品。
专利权项：1.一种视觉检查装置包括：台架，检查目标待被安装在所述台架上；同轴照明设备和倾斜照明设备，利用来自所述同轴照明设备和所述倾斜照明设备的照明光线照射所述检查目标；相机，所述相机获得由所述同轴照明设备和所述倾斜照明设备利用所述照明光线照射的所述检查目标的捕获图像；以及控制设备，其中所述控制设备将所述捕获图像转换为二值图像中，所述控制设备通过整合所述二值图像的预定像素值的像素的数目来计算判定值，以及所述控制设备通过比较所述判定值和预定值来针对所述检查目标判定非缺陷产品或缺陷产品。
百度查询： 瑞萨电子株式会社 视觉检查装置和视觉检查方法
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