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申请/专利权人：苏州华太电子技术股份有限公司
申请日：2023-12-05
公开（公告）日：2024-03-01
公开（公告）号：CN117630642A
专利技术分类：.电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）[2006.01]
专利摘要：本申请实施例提供了去嵌方法和去嵌装置，方法包括：获取目标标准结构件在多个频率下的第一电路传输特性参数；基于目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数，得到各个频率对应的特征阻抗；将目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数的阻抗调整为各个频率对应的特征阻抗，得到调整阻抗后的第一电路传输特性参数；基于调整阻抗后的目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数和目标校准算法，得到被测件在各个频率下的第一电路传输特性参数；将被测件在各个频率下的第一电路传输特性参数的阻抗调整为目标阻抗，得到调整阻抗后的被测件的第一电路传输特性参数。本申请实施例能够提高去嵌准确度。
专利权项：1.一种去嵌方法，其特征在于，包括：获取目标标准结构件在多个频率下的第一电路传输特性参数，所述目标标准结构件包括校准结构件和被测结构件，所述被测结构件包括检测焊盘、传输线和被测件，所述检测焊盘通过传输线与所述被测件电连接；基于所述目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数，得到各个频率对应的特征阻抗；将所述目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数对应的阻抗分别调整为各个频率对应的特征阻抗，得到调整阻抗后的所述目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数；基于调整阻抗后的所述目标标准结构件在各个频率下的第一电路传输特性参数和目标校准算法，得到所述被测件在各个频率下的第一电路传输特性参数；将所述被测件在各个频率下的第一电路传输特性参数的阻抗调整为目标阻抗，得到调整阻抗后的所述被测件的第一电路传输特性参数。
百度查询： 苏州华太电子技术股份有限公司 去嵌方法和去嵌装置
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