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申请/专利权人：天津德科智控股份有限公司
摘要：本发明公开了变参差分式EPS电源电压有效性检测方法，本发明涉及EPS电源检测技术领域，包括LDO芯片、MCU芯片以及分压电路，分压电路包括两路，其中一路电路由电阻R1和电阻R2构成，分电压为U1，另一路电路由电阻R3和电阻R4构成，分电压为U2。本发明实现了EPS供电电压的有效性检测，准确识别MCU芯片供电电压状态，处理可信的采样信号，避免了由于EPS供电电压不足导致采样信号异常引发的EPS误报警，以此技术方案实现的电源管理功能可以有效的保护产品在不同供电电压下的正常工作，提高了产品的稳定性和寿命，优化了用户的体验，是一种低成本的解决方案。
主权项：1.变参差分式EPS电源电压有效性检测方法，其特征在于，包括LDO芯片、MCU芯片以及分压电路，所述分压电路包括两路，其中一路电路由电阻R1和电阻R2构成，分电压为U1，电阻R1和电阻R2分压比例另一路电路由电阻R3和电阻R4构成，分电压为U2，电阻R3和电阻R4的分压比例其中分压比例K1≠K2，两路分压电路上端连接Power，下端连接GND，其中LDO芯片输入电压用Power表示，其中输出电压用VMCU表示，VMCU同时为MCU芯片供电电压；所述分电压U1＝Power·K1，电路分压U2＝Power·K2，MCU芯片上设置有ADC转换模块的两个引脚，两个引脚分别为AD_1、AD_2，所述分电压U1、U2以差分走线方式分别与MCU芯片的AD_1、AD_2引脚连接；ADC采样满量程为2n，分电压U1、U2经过模数转换后的数字量分别为AD1、AD2，其中其中ΔE1、ΔE2为共模干扰，由于分电压U1、U2为差分走线方式，故ΔE1＝ΔE2＝ΔE，以差分形式消除共模干扰，变参差分计算公式：通过上变参差分计算公式计算得出ΔAD数值，利用ΔAD数值以及2n·丨K1-K2丨的比较判定该状态下EPS电源电压处于有效或无效状态，ADC采样值可信或不可信。
全文数据：
权利要求：
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