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申请/专利权人：广州乾丰印花有限公司
摘要：本发明提供一种印花面料疵点检验方法、装置及计算设备，涉及印花面料疵点检验技术领域，所述方法包括：根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面；根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，根据所述单个粒子中心点，对单个粒子中心点的邻域点云进行特征度量，以获得单个粒子边缘信息；根据所述单个粒子边缘信息，对面料单个粒子体积进行计算，以获得单个粒子的体积；根据所述单个粒子的体积，以获得粒子在面料上的覆盖率，根据所述覆盖率，计算粒子在面料上的均匀度；根据粒子在面料上的均匀度，以得到面料的异常点，根据所述异常点确定面料的瑕疵点。本发明提高了检测的精确度和可靠性。
主权项：1.一种印花面料疵点检验方法，其特征在于，所述方法包括：获取面料图像，并对所述面料图像进行预处理和分割，以获得分割面基点；根据所述分割面基点，确定位于织物表面上的分割面点集，根据所述分割面点集，剔除所述分割面点集中的错误点，以得到粒子群分割面；根据所述粒子群分割面，提取单个粒子中心点，根据所述单个粒子中心点，对单个粒子中心点的邻域点云进行特征度量，以获得单个粒子边缘信息；根据所述单个粒子边缘信息，对面料单个粒子体积进行计算，以获得单个粒子的体积，包括：根据单个粒子边缘信息，获取粒子的形状信息；根据粒子的形状信息，计算粒子的体积；根据所述单个粒子的体积，以获得粒子在面料上的覆盖率，根据所述覆盖率，计算粒子在面料上的均匀度，包括：根据所有粒子的体积总和以及面料总的体积，计算总覆盖率；将面料划分为多个分割区域，分别计算每个分割区域内的粒子覆盖率；根据所述总覆盖率以及粒子覆盖率，确定粒子在面料上的均匀度；根据粒子在面料上的均匀度，以得到面料的异常点，根据所述异常点确定面料的瑕疵点。
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权利要求：
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