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申请/专利权人：武汉TCL集团工业研究院有限公司
摘要：本发明公开了一种异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取监测数据信息，基于图模型，对监测数据信息进行预测处理，得到预测数据信息，基于预测数据信息，对监测数据信息进行分析处理，得到数据分析结果，数据分析结果表征监测数据信息的异常情况。采用本发明实施例，能够根据监测数据信息的异常情况，精准定位到发生异常的监测设备，缩短了工艺工程师排查异常的时间成本，极大的提高生产效率。
主权项：1.一种异常数据分析方法，其特征在于，包括：获取监测数据信息；基于图模型，对所述监测数据信息进行预测处理，得到预测数据信息；基于所述预测数据信息，对所述监测数据信息进行分析处理，得到数据分析结果；所述数据分析结果表征所述监测数据信息的异常情况。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉TCL集团工业研究院有限公司 异常数据分析方法、装置、电子设备及存储介质
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