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申请/专利权人：平方和(北京)科技有限公司
摘要：本发明涉及一种片剂缺陷检测方法，该方法通过获取待检测片剂的图像信息、以及与待检测片剂对应的合格样品数据，基于图像信息，生成待检测片剂的各行高度信息，将各行高度信息与合格样品数据中对应行高度信息进行比对，根据比对结果，确定待检测片剂的缺陷检测结果；本发明提升了片剂表面缺陷检测的准确性，具有较强的抗干扰能力，适用于不同类型的片剂，避免了应用机器视觉检测技术对片剂进行缺陷检测过程中，由于片剂表面光线干扰、颜色干扰、字符干扰或瑕疵微小等原因，导致不能准确得到缺陷检测结果的技术问题。
主权项：1.一种片剂缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测片剂的图像信息、以及与所述待检测片剂对应的合格样品数据，所述图像信息包括三维图像信息；基于所述图像信息，生成所述待检测片剂的各行高度信息；将各行高度信息与所述合格样品数据中对应行高度信息进行比对，根据比对结果，确定所述待检测片剂的缺陷检测结果。
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权利要求：
百度查询： 平方和(北京)科技有限公司 一种片剂缺陷检测方法
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