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一种LVS验证方法和系统 

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申请/专利权人:上海领帆微电子有限公司

摘要:本申请实施例提供了一种LVS验证方法和系统。该方法包括:根据选取的第一标记层和设置的第一几何特征,创建器件的器件类型标记图形;基于器件的端口数量,根据选取的第二标记层和设置的第二几何特征,创建与端口数量相同数量的器件端口标记图形,其中,第一几何特征与第二几何特征不同;根据器件类型标记图形和器件端口标记图形,生成LVS规则文件;根据LVS规则文件,将版图中器件的器件类型和端口连接性与目标集成电路中器件的器件类型和端口连接性进行比对。本申请实施例可以简便且准确地对器件在版图中标记以及在通过LVS规则文件进行LVS验证过程中对器件类型和端口连接性进行识别。

主权项:1.一种LVS验证方法,其特征在于,包括:根据选取的第一标记层和设置的第一几何特征,创建器件的器件类型标记图形;基于所述器件的端口数量,根据选取的第二标记层和设置的第二几何特征,创建与所述端口数量相同数量的器件端口标记图形,其中,所述第一几何特征与所述第二几何特征不同;根据所述器件类型标记图形和所述器件端口标记图形,生成LVS规则文件;根据所述LVS规则文件,将版图中器件的器件类型和端口连接性与目标集成电路中器件的器件类型和端口连接性进行比对。

全文数据:

权利要求:

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