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申请/专利权人：杰华特微电子股份有限公司
摘要：本发明公开了一种基于LVS工具的盆区检测方法，包括：在所述LVS工具中添加盆区电压作为新的属性；获取芯片电路中多个目标器件的盆区电压，并将所述多个目标器件的盆区电压对应的添加至网表中；基于所述芯片电路绘制版图，并基于第一距离参数和第二距离参数定义所述版图中的多个盆区的盆区电压；将所述多个目标器件对应的放置于所述多个盆区中，并将定义的所述多个盆区的盆区电压对应的传递给所述多个目标器件；对比所述网表中每个目标器件的盆区电压与对应的盆区传递的盆区电压是否一致，并在不一致时进行报错。本发明提升了对器件盆区的检测效率和检测准确率。
主权项：1.一种基于LVS工具的盆区检测方法，其特征在于，所述方法包括：在所述LVS工具中添加盆区电压作为新的属性；获取芯片电路中多个目标器件的盆区电压，并将所述多个目标器件的盆区电压对应的添加至网表中；基于所述芯片电路绘制版图，并基于第一距离参数和第二距离参数定义所述版图中的多个盆区的盆区电压；将所述多个目标器件对应的放置于所述多个盆区中，并将定义的所述多个盆区的盆区电压对应的传递给所述多个目标器件；对比所述网表中每个目标器件的盆区电压与对应的盆区传递的盆区电压是否一致，并在不一致时进行报错，其中，所述第一距离参数为所述多个盆区中每个盆区对应的深阱区与相邻的N型阱区的最小距离，所述第二距离参数为所述多个盆区中每个盆区对应的深阱区与相邻的P型阱区的最小距离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杰华特微电子股份有限公司 基于LVS工具的盆区检测方法
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