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申请/专利权人：诸暨市吉尔德珠宝检测有限公司
摘要：本发明公开了用于珍珠检测的缺陷评估方法及系统，涉及缺陷评估相关技术领域，其技术方案要点是所述缺陷评估方法包括以下步骤：获取珍珠图像，对珍珠图像进行轮廓边缘清晰化的预处理；对珍珠图像进行边缘化检测，提取珍珠图像中的边缘信息，生成二值化的边缘轮廓图；本发明的缺陷评估方法，能够将圆形珍珠和椭圆形珍珠清晰划分；解决了人工目视检查不能清楚地判断珍珠的圆度是否满足要求，因此存在椭圆形珍珠混入圆形珍珠的情况。缺陷评估方法还能识别出珍珠表面存在的缺陷；此外还能够评估如何在后续加工时将缺陷最小化；解决了通过人工目视检查珍珠的表面瑕疵以及评估加工时如何将缺陷最小化的方式主要依赖于工作经验，因此存在局限性的问题。
主权项：1.用于珍珠检测的缺陷评估方法，其特征在于，所述缺陷评估方法包括以下步骤：获取珍珠图像，对珍珠图像进行轮廓边缘清晰化的预处理；对珍珠图像进行边缘化检测，提取珍珠图像中的边缘信息，生成二值化的边缘轮廓图；将边缘轮廓图中的边缘点坐标存入集合A；计算边缘轮廓图中每个测试点i与集合A中各边缘点的距离，i＝1,2...n；将测试点i与各边缘点的最大距离Limax存入到数组B中，数组B中的最小值所处的测试点为珍珠中心；输出珍珠中心坐标；设为椭圆长轴a，根据集合A中各边缘点j坐标计算椭圆预测短轴bj，j＝1,2...m；当在第一角度范围内的短轴均处于预设区间0，k]内时，其中k＜a，判定珍珠为椭圆形，选取第一角度范围内的椭圆预测短轴bjmax为椭圆形珍珠的椭圆短轴b；否则珍珠为圆形，此时选取椭圆长轴a为圆形珍珠的半径；拟合珍珠理想轮廓；基于珍珠中心将边缘轮廓图中的珍珠实际轮廓与珍珠理想轮廓重叠，标记出珍珠实际轮廓偏移珍珠理想轮廓的部分；其中，珍珠实际轮廓超出珍珠理想轮廓的部分为凸起缺陷区域；珍珠实际轮廓小于珍珠理想轮廓的部分为凹陷缺陷区域；以珍珠加工的加工面作为消除笔，通过消除笔将珍珠实际轮廓偏移珍珠理想轮廓的部分消除；标记消除笔消除的位置；统计珍珠实际轮廓偏移珍珠理想轮廓的剩余部分的缺陷数量和缺陷面积；根据评估的缺陷评价珍珠在加工后的品质等级。
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权利要求：
百度查询： 诸暨市吉尔德珠宝检测有限公司 用于珍珠检测的缺陷评估方法及系统
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