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输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备 

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申请/专利权人:长鑫存储技术有限公司

摘要:本公开提供一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法及设备,涉及半导体测试技术领域,该方法包括:获取电压校准功能测试电路,包括参考电压产生电路、比较器和组合逻辑电路;建立比较器的替代模型,替代模型用于根据修调电压输入端输入的激励信号输出对应的输出信号;将替代模型替换比较器,以使正相输入端和负相输入端均连接至参考电压产生电路的输出端;通过修调电压输入端输入激励信号,并监控组合逻辑电路生成的校准输出信号,以将校准输出信号与预设期望输出进行对比。本公开可以将替代模型作为比较器的数字模型,以通过数字仿真实现电压校准功能的测试,相较于模拟仿真,可以降低电压校准功能的检查复杂度和耗时。

主权项:1.一种输入缓冲器的电压校准功能测试电路检查方法,其特征在于,所述方法包括:获取所述输入缓冲器的电压校准功能测试电路,所述电压校准功能测试电路包括参考电压产生电路、比较器和组合逻辑电路;所述参考电压产生电路用于向所述比较器提供参考电压信号,所述组合逻辑电路用于基于所述比较器的输出信号生成校准输出信号;建立所述比较器的替代模型;所述替代模型包括正相输入端、负相输入端、输出端及修调电压输入端,所述替代模型用于根据所述修调电压输入端输入的激励信号输出与所述激励信号对应的输出信号;将所述替代模型替换所述电压校准功能测试电路中的所述比较器,以使所述正相输入端和所述负相输入端均连接至所述参考电压产生电路的输出端,所述替代模型的输出端与所述组合逻辑电路的输入端连接;通过所述修调电压输入端输入所述激励信号,并监控所述组合逻辑电路生成的校准输出信号,以将所述校准输出信号与预设期望输出进行对比。

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权利要求:

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