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申请/专利权人：atg路德迈股份有限公司
摘要：本发明涉及用于测量印刷电路板的孔洞中的导电层的测试针，以及涉及配备有此类测试针的测试探针及涉及用于测试印刷电路板的配备有此类测试针或此类测试探针的飞针测试器。该测试针具有电容测量主体，该电容测量主体经由缆线连接到电容测量设备。该缆线被屏蔽为使得只有该电容测量主体可以与其他的导电主体形成电容耦接。这使得可能用高局部分辨率确定此电容耦接。
主权项：1.一种用于测量印刷电路板的孔洞中的导电层的测试探针，所述测试探针具有：测试针，该测试针包括：导电体，被屏蔽物包封；该测试针具有连接端，在该连接端处，该测试针能够被电连接到电容测量设备；及测量端，在测量期间能够被安插到孔洞中，其中，在该测量端处，连接到该导电体的电容测量主体被定位在该屏蔽物外部且能够与该孔洞中的导电层形成电容耦接；以及触碰传感器，能够用该触碰传感器来确定该测试针是否正在触碰另一主体，其中，所述测试针被安插到所述孔洞中与所述触碰传感器连接，其中，所述印刷电路板的至少一个导体轨道被连接到电接地，所述导体轨道是延伸跨越到该印刷电路板的远处的导体轨道，用于测量该电容的电流测量设备的输入侧具有施加到该输入侧的电接地电势。
全文数据：
权利要求：
百度查询： atg路德迈股份有限公司 用于测试印刷电路板的测试针、测试探针、及飞针测试器
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