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申请/专利权人：珠海真理光学仪器有限公司
摘要：本实用新型提供一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，包括：样品池，其倾斜角度θ固定，装载具有不同折射率的分散介质及悬浮在在介质中的被测颗粒，其在沿光束照射方向上依次布置的两块透明平板之间相隔距离L；玻璃片，放置于样品池后，其倾斜角度θ’可调，其厚度为L’，具有折射率n’，通过调整倾斜角度θ’来调节光束透过偏移片后的偏移量h’；透镜，会聚来自样品池指定散射点的散射光，并将散射点成像在光纤接收端上；光纤处理模块，接收颗粒的散射光，并用光子计数器测量散射信号。本实用新型实现在样品池装载折射率未知的分散介质时，通过调整偏移片倾斜角度，修正偏移量，来测量计算出介质的折射率，操作方便，结构简单。
主权项：1.一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统，其特征在于，包括：样品池，其倾斜角度θ固定，用于装载分散介质，分散介质中含有待测量粒度的纳米颗粒，其在沿光束照射方向上依次布置的两块透明平板板之间相隔第一距离L；玻璃片，放置于所述样品池后，其倾斜角度θ’可调，其沿着光路行进方向的厚度为L’，具有折射率n’，用于通过调整倾斜角度θ’来修正光束透过所述玻璃片后的偏移量h’；透镜，用于会聚来自样品池指定散射点的散射光，并将散射点成像在光纤处理模块上；光纤处理模块，用于接收所述透镜会聚的散射光，并用光子计数器测量散射信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 珠海真理光学仪器有限公司 一种能测量介质折射率的动态光散射纳米粒度测量系统
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