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申请/专利权人：深圳市时创意电子股份有限公司
摘要：本申请公开了一种测试装置，测试方法和测试系统，所述测试装置包括印刷电路板和集成在印刷电路板上的FPGA芯片，印刷电路板上包括至少一个测试接口，测试接口与n个mbit位宽的内存颗粒电连接；FPGA芯片包括控制模块和可编程逻辑模块，可编程逻辑模块包括n个测试接口管脚组，每个测试管脚组通过所述测试接口与每个mbit位宽的内存颗粒一一对应连接，且定义出与每个mbit位宽的内存颗粒对应的管脚类型。本申请将FPGA芯片集成在印刷电路板上，即通过FPGA芯片替代原来的测试架构，不受限于64Bit的带宽，数据位宽都是可配的，可以随心所欲的对内存颗粒进行性能测试，即可以对单个颗粒实现单独测试，也可以对多个颗粒组成的内存条进行整体测试。
主权项：1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括印刷电路板和FPGA芯片，所述FPGA芯片集成在所述印刷电路板上，所述印刷电路板上包括至少一个测试接口区，所述测试接口区包括测试接口，所述测试接口与n个mbit位宽的内存颗粒电连接；所述FPGA芯片包括控制模块和可编程逻辑模块，所述可编程逻辑模块包括n个测试接口管脚组，每个测试管脚组通过所述测试接口与每个mbit位宽的内存颗粒一一对应连接，且定义出与每个mbit位宽的内存颗粒对应的管脚类型；其中，所述可编程逻辑模块对应不同位宽的内存颗粒时，分别将对应的测试管脚定义成对应位宽的内存颗粒的管脚类型，n≥1，m≥2N，N≥1，n，m，N为自然数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市时创意电子股份有限公司 测试装置、测试方法和测试系统
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