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申请/专利权人：珠海妙存科技有限公司
摘要：本申请公开一种EMMC芯片老化测试电路及其控制方法、测试系统，涉及芯片老化测试技术领域。EMMC芯片老化测试电路包括：母板包括第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端；直流电源通过第一开关模块与第一输入端连接；固件烧录板通过第二开关模块与第二输入端连接；子板包括EMMC芯片、SPI芯片、连接在第一输出端与EMMC芯片之间的缓启开关模块、连接在第一输出端与SPI芯片之间的第三开关模块、二极管；二极管的阴极与SPI芯片连接，二极管的阳极分别与第二输出端、第三开关模块连接；控制器分别与第一开关模块和第二开关模块通信连接。能降低老化测试过程的供电功耗和供电成本，提高成功启动EMMC芯片的概率。
主权项：1.一种EMMC芯片老化测试电路，其特征在于，包括：母板，包括第一输入端、第二输入端、第一输出端和第二输出端；直流电源，通过第一开关模块与所述第一输入端连接；固件烧录板，通过第二开关模块与所述第二输入端连接；子板，包括：EMMC芯片、SPI芯片、连接在所述第一输出端与所述EMMC芯片之间的缓启开关模块、连接在所述第一输出端与所述SPI芯片之间的第三开关模块、二极管；所述二极管的阴极与所述SPI芯片连接，所述二极管的阳极分别与所述第二输出端、所述第三开关模块连接；控制器，分别与所述第一开关模块和所述第二开关模块通信连接；所述控制器用于：响应于烧录指令，控制所述第一开关模块断开、所述第二开关模块闭合，使所述缓启开关模块、所述第三开关模块断开；以使所述固件烧录板输出的供电烧录信号输出至所述SPI芯片，对所述SPI芯片实现上电和烧录；响应于老化测试启动指令、所述SPI芯片发出的烧录完成信号，控制所述第一开关模块闭合、所述第二开关模块断开，使所述缓启开关模块、所述第三开关模块导通；以使所述直流电源输出电源供电电压，令所述SPI芯片立刻启动、所述EMMC芯片经过预设延迟延时后延迟启动，对所述EMMC芯片进行老化测试；所述预设延迟延时由所述缓启开关模块确定。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 珠海妙存科技有限公司 EMMC芯片老化测试电路及其控制方法、测试系统
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