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申请/专利权人：华硼中子科技(杭州)有限公司
摘要：本申请提供一种准直型SPECT探测器贡献系数获取方法、终端及介质，其中，方法包括：提取辐射源区中各辐射源子区的空间分布，和提取探测器准直后的当前视场域的空间分布；基于各所述辐射源子区的空间分布和所述当前视场域的空间分布，获取各所述辐射源子区对应的覆盖信息；基于各所述辐射源子区对应的覆盖信息，获得探测器于当前探测角度下的贡献系数，本申请提高了贡献系数获取的准确性，从而有效地提升了探测对象所对应重构图像的重构效果。
主权项：1.一种准直型SPECT探测器贡献系数获取方法，其特征在于，包括：提取辐射源区中各辐射源子区的空间分布；获取探测器于当前探测角度下的当前视场域，提取所述当前视场域的空间分布；所述当前视场域为探测器准直后于探测面内的探测视场范围；基于各所述辐射源子区的空间分布和所述当前视场域的空间分布，获取各所述辐射源子区对应的覆盖信息，包括：根据所述当前视场域的空间分布，于坐标系中构建与所述当前视场域对应的第一分布区域；根据各辐射源子区的空间分布，于坐标系中构建与各辐射源子区对应的第二分布区域；将所述第一分布区域与各所述第二分布区域执行空间叠加分析，以获得所述第一分布区域与各所述第二分布区域之间的相交区域；提取所述相交区域的范围，以获得所述辐射源子区对应的覆盖信息；将各所述辐射源子区对应的覆盖信息排布成一维矩阵；将该一维矩阵作为当前探测角度下的贡献系数；排布顺序与各辐射源子区的辐射强度获取顺序相适配，以基于该贡献系数和基于各辐射源子区对应的辐射强度，获得探测面内的辐射强度分布；其中，所述覆盖信息包括所述辐射源子区内被所述当前视场域覆盖的覆盖范围或覆盖率。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华硼中子科技(杭州)有限公司 准直型SPECT探测器贡献系数获取方法、终端及介质
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