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测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组 

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申请/专利权人:成都海光微电子技术有限公司

摘要:本发明涉及一种测试方法、装置、测试设备、存储介质及RTC集成模组,属于测试领域。该方法包括:响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号;确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数;将所述测试输入值输入所述RTC集成模组;基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值;其中,所述跳变信号所包括的上升沿跳变次数与所述计数次数相同,且所述跳变信号的跳变频率大于所述原有时钟信号的频率。通过该方法,可以提高测试效率。

主权项:1.一种测试方法,其特征在于,所述方法包括:响应测试指令,屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号;确定本次测试的测试参数,所述测试参数包括测试输入值及所述RTC集成模组所包括的定时器在本次测试所需的计数次数;将所述测试输入值输入所述RTC集成模组;基于所述计数次数生成跳变信号驱动所述RTC集成模组工作,以使所述RTC集成模组计算出测试输出值;其中,所述跳变信号所包括的上升沿跳变次数与所述计数次数相同,且所述跳变信号的跳变频率大于所述原有时钟信号的频率;所述RTC集成模组包括或门,所述原有时钟信号通过分频器分频后与所述或门的一个输入端连接,所述或门的另一个输入端与所述跳变信号连接,所述或门的输出端连接所述定时器的时钟信号输入端;所述屏蔽RTC集成模组的原有时钟信号,包括:向所述分频器发送控制信号,使得所述分频器的复位端使能,以使所述分频器输出为0。

全文数据:

权利要求:

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