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申请/专利权人：深圳市卡卓无线信息技术有限公司

摘要：本发明提供了一种电子雷管发火电容的精密测量电路的软件实现方法，属于智能软件技术领域，包括：构建发火电容的目标约束函数集，确定关键设计参数，并与电路设计库进行匹配，构建目标测量电路；锁定多级子电路，并根据每级子电路的电路属性以及电路连接关系，确定测量程序；基于软件平台应用测量程序来对目标测量电路进行第一操作处理以及对发火电容进行第二操作处理，并依据测量程序中的结果记录设定条件，得到第一结果数组以及第二结果数组并进行结果解析，确定目标测量电路的设置合理值以及发火电容的初始电容值；对设置合理值与初始电容值进行分析，确定与标准电容值的差异度；便于对电路进行有效调节，进一步保证对发火电容的可靠性测量。

主权项：1.一种电子雷管发火电容的精密测量电路的软件实现方法，其特征在于，包括：步骤1：获取针对发火电容的目标要求，并构建得到所述发火电容的目标约束函数集；步骤2：对所述目标约束函数集进行函数解析，确定关键设计参数，并与电路设计库进行匹配，构建得到针对所述发火电容的目标测量电路；步骤3：锁定所述目标测量电路中的多级子电路，并根据每级子电路的电路属性以及电路连接关系，确定所述目标测量电路的测量程序；步骤4：基于软件平台应用所述测量程序来对所述目标测量电路进行第一操作处理以及对发火电容进行第二操作处理，并依据所述测量程序中的结果记录设定条件，得到针对第一操作处理的第一结果数组以及针对第二操作处理的第二结果数组；步骤5：对所述第一结果数组以及第二结果数组进行结果解析，确定所述目标测量电路的设置合理值以及发火电容的初始电容值；步骤6：对所述设置合理值与初始电容值进行分析，确定与标准电容值的差异度；若所述差异度小于预设度，则保持目标测量电路不变；否则，基于差异度、第一结果数组中的第一差异信息以及第二结果数组中的第二差异信息，对所述目标测量电路进行持续调整；步骤1，包括：解析所述目标要求确定构建测量发火电容的电路的器件数量以及器件成本、对发火电容的测量精度、对发火电容的测量安全性；基于所述器件数量以及器件成本，且结合第一变动范围构建第一约束函数；基于测量精度且结合第二变动范围构建第二约束函数；基于测量安全性且结合第三变动范围构建第三约束函数；其中，目标约束函数集即为：第一约束函数、第二约束函数以及第三约束函数；步骤2，包括：获取所述发火电容的电容制备流程，并从流程-解析数据库中获取得到解析模型对所述目标约束函数进行函数解析，得到关键设计参数；将所述关键设计参数分别填充到电路设计表中得到设计参考描述；将所述设计参考描述与电路设计库进行匹配，得到每个目标器件的器件型号以及器件连接情况，得到所述发火电容的目标测量电路；步骤3，包括：根据每级子电路的电路构造图确定对应级子电路的电路接口，并根据所述电路接口所处的接口位置且结合程序第一数据库向对应电路接口分配第一程序，同时，根据对应级子电路的电路属性以及电路连接关系且结合第二程序数据库，向对应电路接口分配第二程序；将同级子电路中每个电路接口的第一程序与第二程序进行匹配，确定对应电路接口的一致程序的第一程序量s01、基于第一程序的不一致程序的第二程序量s02以及基于第二程序的不一致程序的第三程序量s03；确定所述第一程序量s01、第三程序量s02基于第一程序的第一布局，同时，确定所述第一程序量s01、第二程序量s03基于第二程序的第二布局；根据所述第一布局以及第二布局，计算对相应电路接口的程序调整概率g0； 其中，g1表示基于第一布局的不一致分布概率；g2表示基于第二布局的不一致分布概率；c0c1,c2表示基于第二程序量s02所对应程序在第一程序中分布位置c1以及基于第三程序量s03所对应程序在第二程序中分布位置c2的位置占比；σ12表示基于1-maxg1,g2、1-c0c1,c2的方差；Δ1表示概率调节函数；[]表示取整符号；若所述程序变更概率大于或等于预设概率，则基于mins01,s02,s03确定第一保留程序量；否则，根据与对应电路接口连接的线路分叉数量以及并联连接数量，确定每个程序量所对应程序的允许增加内容以及允许删减内容，并分别计算每个程序量所对应的程序可靠性； 其中，ki表示第i个程序量所对应的程序可靠性，i＝1，2，3；yizi,si,s0i表示基于zi,si,s0i所对应程序的对比分析函数；m1i表示第i个程序量所对应满足判断条件G1中的元素个数；rif0,b0表示基于对应电路接口下的线路分叉数量f0与并联连接数量b0对第i个程序量的优化函数，取值范围为0.8，1.1；基于maxk1,k2,k3确定第二保留程序量；以保留程序量对应的程序为基准，对剩余程序量对应的程序进行协调处理，得到针对电路接口的最后程序；对同级子电路中每个电路接口的最后程序进行程序之间的第一矛盾消除处理以及对不同级子电路中的电路程序进行程序之间的第二矛盾消除处理，得到所述目标测量电路的测量程序。

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