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申请/专利权人：中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种排除冗余故障的测试生成方法、装置、设备和存储介质，其中，所述方法通过系统运行数据判断当前是否需要进行冗余故障排除，增加了测试生成中动态精简的成功率，减少了生成的测试向量，并在测试向量生成时，通过单故障测试生成器对故障列表中的所有故障进行判断，当选定的主要故障无法生成测试立方时，将主要故障排除，当主要故障能生成测试立方时，为主要故障生成测试立方，并在故障列表的剩余故障中随机选择一个故障作为次要故障，通过次要故障为测试立方填充比特，生成测试向量，从而解决目前的测试生成方案，由于并未排除冗余故障，系统精简向量的能力低，导致运行时间长，测试向量数量多的问题。
主权项：1.一种排除冗余故障的测试生成方法，其特征在于，包括：获取verilog格式的网表，并通过网表解析器对所述网表进行解析；通过故障列表分析器对解析后的所述网表进行分析，生成故障列表；从所述故障列表随机选择一个故障作为主要故障，并通过单故障测试生成器对所述主要故障进行测试，并获取系统运行数据，根据所述系统运行数据判断当前系统是否进行冗余故障排除；若是，则判断所述主要故障能否生成测试立方；若能，则为所述主要故障生成测试立方，并在所述故障列表的剩余故障中随机选择一个故障作为次要故障，通过所述次要故障为所述测试立方填充比特，生成测试向量；若不能，则将所述主要故障排除，并在所述故障列表重新选择主要故障。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司 排除冗余故障的测试生成方法、装置、设备和存储介质
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