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测控实验结果的处理方法及装置、量子计算机 

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申请/专利权人:本源量子计算科技(合肥)股份有限公司

摘要:本发明公开了一种测控实验结果的处理方法及装置、量子计算机,首先对当前的测控实验的原始实验数据进行数据预处理,获取待分析的数据,其中,所述测控实验为对量子芯片中量子比特进行控制和测量的实验;然后对所述待分析的数据进行曲线拟合处理,获取拟合参数;最后从所述拟合参数中获取所述测控实验的结果。利用本申请提出的方案,可以在执行完测控实验后根据设定好的实验结果分析流程对测控实验结果进行处理,有效提高了测控实验结果的处理效率,在一定程度上提高了量子计算机的执行效率。

主权项:1.一种测控实验结果的处理方法,其特征在于,包括:对当前的测控实验的原始实验数据进行数据预处理,获取待分析的数据,其中,所述测控实验为对量子芯片中量子比特进行控制和测量的实验;对所述待分析的数据进行曲线拟合处理,获取拟合参数;从所述拟合参数中获取所述测控实验的结果。

全文数据:

权利要求:

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