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申请/专利权人：紫光同芯微电子有限公司
摘要：本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种用于处理芯片的测试pattern的方法及装置、电子设备。用于处理芯片的测试pattern的方法包括：获取测试pattern处理文档，测试pattern处理文档包括一个或多个待处理测试pattern的描述参数；根据描述参数查找待处理测试pattern，以及在预设的数据库中查找用于处理待处理测试pattern的目标等待冗余处理方案；根据目标等待冗余处理方案确定第一目标序列，以及对第一目标序列进行处理的第一目标方式；按照第一目标方式对待处理测试pattern中与第一目标序列相同的序列进行处理。本申请只需人工提供测试pattern处理文档，即可自动在待处理测试pattern中的差异位置插入或修正等待冗余，提高了处理待处理测试pattern效率和准确性，进而提高了对芯片进行功能测试的效率。
主权项：1.一种用于处理芯片的测试pattern的方法，其特征在于，包括：获取测试pattern处理文档，测试pattern处理文档包括一个或多个待处理测试pattern的描述参数；根据描述参数查找待处理测试pattern，以及在预设的数据库中查找用于处理待处理测试pattern的目标等待冗余处理方案；根据目标等待冗余处理方案确定第一目标序列，以及对第一目标序列进行处理的第一目标方式；按照第一目标方式对待处理测试pattern中与第一目标序列相同的序列进行处理。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 紫光同芯微电子有限公司 用于处理芯片的测试pattern的方法及装置、电子设备
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