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一种硫化银半导体晶体及其制备方法 

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申请/专利权人:乌镇实验室

摘要:本发明提供一种硫化银半导体晶体制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1分别称量高纯度的Ag和S颗粒作为初始原料,其中Ag:S的摩尔比1.8~2.2:1;2将所述初始原料进行真空密封,在摇摆炉中升温至熔融温度1000~1100℃并保温0.5~4h后冷却得到多晶棒;3将多晶棒真空密封,放置位于三温区晶体生长炉的高温区保温,所述高温区的温度为920~1000℃,然后以0.5~3mmh的速度下降并经过温度梯度为30~35℃cm的梯度区;随后进入三温区晶体生长炉的低温区,所述低温区的温度为400~600℃;获得Ag2S晶体;4将获得的晶体进行退火,退火温度为700~900℃,退火时间为5~20h。本发明解决了现有制备方法存在的工艺繁琐,条件苛刻,生长尺寸较小等问题。

主权项:1.一种硫化银半导体晶体制备方法,其特征在于,包括以下步骤:1分别称量高纯度的Ag和S颗粒作为初始原料,其中Ag:S的摩尔比1.8~2.2:1;2将所述初始原料进行真空密封,在摇摆炉中升温至熔融温度1000~1100℃并保温0.5~4h后冷却得到多晶棒;3将多晶棒真空密封,放置位于三温区晶体生长炉的高温区保温,所述高温区的温度为920~1000℃,然后以0.5~3mmh的速度下降并经过温度梯度为30~35℃cm的梯度区;随后进入三温区晶体生长炉的低温区,所述低温区的温度为400~600℃;获得Ag2S晶体;4将获得的晶体进行退火,退火温度为700~900℃,退火时间为5~20h。

全文数据:

权利要求:

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