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基于最小二乘法校正不通视控制点的方法 

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申请/专利权人:中冶天工集团有限公司

摘要:本发明提供一种基于最小二乘法校正不通视控制点的方法,用于工程测量技术领域;包括布设引点,使已知控制点、引点和未知控制点相连后形成至少两条导线;测量相邻两点之间的距离和相邻两条边之间的转折角;建立假定坐标系;建立基于测量误差的所述假定坐标系与控制网坐标系的坐标值之间的数学关系模型;基于最小二乘法求取数学关系模型中的未知参数;计算未知控制点的校正坐标值。本发明的通过合理设置引点构建两条导线,实现了未知控制点与已知控制点的拓扑关联;同时增加了多余观测数,使得最终测量成果精度及可靠性更高;测量过程灵活实用、省时快捷、易操作,只需测边长及转折角,即可基于最小二乘法快速得出未知控制点的校正坐标。

主权项:1.基于最小二乘法校正不通视控制点的方法,其特征在于,包括以下步骤:布设引点,使已知控制点、所述引点和未知控制点相连后形成至少两条导线;测量相邻两点之间的距离和相邻两条边之间的转折角;设定起始点和起始方向,建立假定坐标系,依次计算所有点在所述假定坐标系中的坐标值;建立基于测量误差的所述假定坐标系与控制网坐标系的坐标值之间的数学关系模型;将所述数学关系模型转换为矩阵表达式;基于最小二乘法求取所述数学关系模型中的未知参数;计算所述未知控制点的校正坐标值;验算计算结果的准确性。

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