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申请/专利权人：清华大学
摘要：本发明公开了一种基于三线圈涡流检测的非导电涂层厚度测量方法，方法包括：获取用于非导电涂层厚度测量的涡流检测探头；获取用于涡流检测探头标定的标准导电基体试件以及具备不同厚度的标准非导电塑料试片；将所述标准非导电塑料试片依次放置在标准导电基体试件上进行涡流检测探头标定；将涡流检测探头垂直贴合在被测件上进行非导电涂层厚度涡流检测，以计算得到多个被测试件的非导电涂层厚度值；计算所有的非导电涂层厚度值的平均值，得到最终测得的被测件非导电涂层厚度。本发明基于峰值频率与非导电涂层厚度的线性关系采用三线圈进行标定测量，具有稳定性好，准确度高的优势。
主权项：1.一种基于三线圈涡流检测的非导电涂层厚度测量方法，其特征在于，包括：获取用于非导电涂层厚度测量的涡流检测探头；获取用于涡流检测探头标定的标准导电基体试件以及具备不同厚度的标准非导电塑料试片；将所述标准非导电塑料试片依次放置在标准导电基体试件上进行所述涡流检测探头标定；将涡流检测探头垂直贴合在被测件上进行非导电涂层厚度涡流检测，以计算得到多个被测试件的非导电涂层厚度值；计算所有的所述非导电涂层厚度值的平均值，得到最终测得的被测件非导电涂层厚度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 一种基于三线圈涡流检测的非导电涂层厚度测量方法
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