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申请/专利权人：深圳市安健科技股份有限公司
摘要：本发明公开一种用于多层平板探测器的几何校正方法及装置，通过多层平板探测器对几何校正模体进行照射后，获取到多层平板探测器中各层的校正图像，而由于几何校正模体上设置有特征标记，使得照射后得到的每一校正图像中都有与特征标记对应的坐标，从而在后续校正的过程中，能够以第一预设层对应的特征标记的坐标为参考基准结合其余各层对应的特征标记的坐标计算得到各层对应的几何校正矩阵，从而得到各层与第一预设层之间的几何位置偏差，并最终通过几何校正矩阵对各层的位置进行校正，进而消除第一预设层与各层之间的几何位置偏差，消除了层级之间存在相对平移、内旋、外旋偏差的问题，实现对二维投影图像之间的几何位置差异的矫正。
主权项：1.一种用于多层平板探测器的几何校正方法，其特征在于，包括步骤：通过多层平板探测器采集几何校正模体对应的校正图像，所述几何校正模体上设置有特征标记；根据所述多层平板探测器中各层的所述校正图像获取每一校正图像中的特征标记的坐标；以第一预设层对应的所述坐标为参考基准，对其余各层对应的所述坐标进行矩阵变化计算，得到各层对应的几何校正矩阵；根据所述几何校正矩阵对各层平板的位置以及实际拍摄图像进行校正；所述几何校正模体包括具有一定X射线衰减系数且能够在平板探测器上显影的材料；所述几何校正模体包括至少两组特征标记；至少一组所述特征标记设置在所述几何校正模体的中心；所述特征标记包括任意可求出质心和顶点的图形；且所述特征标记与所述几何校正模体的基底形成强对比。
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权利要求：
百度查询： 深圳市安健科技股份有限公司 一种用于多层平板探测器的几何校正方法及装置
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