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申请/专利权人：中国电子科技集团公司第五十八研究所
摘要：本发明公开一种霍尔电流传感芯片测试方法及测试装置，属于集成电路测试领域。本发明通过程控脉冲电流和同步采集电压信号，实现全参数自动化测试，不需要使用外置电流源、电压表等仪器，降低了测试成本；另外采用输入脉冲电流的方式，在一个30毫秒的脉冲周期内，将所有电流点完成施加，并同步测量对应电压点，大幅度提高了测试效率。本发明在霍尔电流传感芯片测试时实时进行计算处理，在测试完成时直接得出线性度、误差等参数的数据。本发明在测试霍尔电流传感芯片的同时，可以通过和被测芯片的数据交互，调整输出偏移等参数，提升被测芯片的转换精度。
主权项：1.一种霍尔电流传感芯片测试方法，其特征在于，包括：步骤S1：设计测试PCB板，所述测试PCB板包括脉冲电流发生模块、被测器件、测试模块；步骤S2：通过上位机运行测试程序，下发激励信号至所述测试PCB板，所述脉冲电流发生模块对所述被测器件提供可程控的脉冲电流信号，所述被测器件接收到所述脉冲电流信号后，输出转换后的电压信号到所述测试模块；步骤S3：所述测试模块对所述电压信号和所述脉冲电流信号进行同步实时采样，并将测试数据回传至所述上位机；步骤S4：所述上位机收到所述测试数据后，所述测试程序对输入电流对应的电压输出进行计算，产生线性度、误差的测试数据；步骤S5：根据测试结果，所述测试程序计算产生对应的修调信号，通过数据总线将修调信号发送至所述被测器件，所述被测器件接收到修调信号后，内部对被修调参数进行相应调整；步骤S6：再次执行步骤S2到步骤S4，测试得到修调后的最终测试数据；步骤S7：所述测试程序对测试数据和被测器件的规范进行对比分析判断，输出被测器件是否通过的结果，并将测试数据保存。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种霍尔电流传感芯片测试方法及测试装置
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