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申请/专利权人：深圳三地一芯电子股份有限公司

摘要：本发明涉及一种应用于Flash智能分析检测的检测方法、系统、智能终端以及计算机可读存储介质，其包括S1、获取Column总集、Page总集以及Block总集，预设坏Column总集、坏Page总集、错误阈值，以及初始坏Block模板；S2、基于错误阈值从Block总集中依次交替获取坏Page元素和坏Column元素，并依次交替更新坏Page总集和坏Column总集；S3、基于对应于不同错误阈值的各个坏Column总集和对应于不同错误阈值的各个坏Page总集，按照坏模板迭代策略更新错误阈值，从各个坏Column总集中获取最终Column总集，并从各个坏Page总集中获取最终Page总集；S4、获取最终坏Block模板。本发明具有降低badPage对后续选取坏Column元素的操作造成的影响，减少虚假badColumn的产生，进而提高NandFlash分析检测后的有效容量的效果。

主权项：1.一种应用于Flash智能分析检测的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、获取Column总集、Page总集，以及包含Column总集和Page总集的Block总集，预设坏Column总集、坏Page总集、可跟随迭代次数更新的错误阈值，以及包含坏Column总集和坏Page总集的初始坏Block模板；S2、依次交替按照坏页选取策略和坏列选取策略，基于错误阈值从Block总集中依次交替获取坏Page元素和坏Column元素，并依次交替更新坏Page总集和坏Column总集；S3、基于对应于不同错误阈值的各个坏Column总集和对应于不同错误阈值的各个坏Page总集，按照坏模板迭代策略更新错误阈值，从各个坏Column总集中获取最终Column总集，并从各个坏Page总集中获取最终Page总集；S4、基于最终Column总集和最终Page总集更新初始坏Block模板，获取最终坏Block模板；其中，在S2的步骤中，包括：S21、按照坏列干扰排除策略，基于坏Column总集从Page总集中获取待测Page子集，按照坏页判断策略，基于错误阈值依次分析各个待测Page子集，从Block总集中获取坏Page元素，并基于坏Page元素更新坏Page总集；S22、按照坏页干扰排除策略，基于坏Page总集从Column总集中获取各个待测Column子集，按照坏列判断策略，基于错误阈值依次分析各个待测Column子集，从Block总集中获取坏Column元素，并基于坏Column元素更新坏Column总集；在S3的步骤中，包括：S31、建立用于存储各个对应于不同的错误阈值的待对比模板的模板库；S32、按照模板对比策略，判断当前的模板库中完整的错误阈值是否存在满足有效容量条件的最小值，若是则执行S34；若否则执行S33；S33、更新错误阈值，基于坏Column总集和坏Page总集更新待对比模板，并存储进模板库中，并返回S2；S34、基于判断结果生成最终Column总集和最终Page总集。

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