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申请/专利权人：贝叶斯电子科技(绍兴)有限公司;杭州四维映射软件有限公司

摘要：本发明提供了一种多维数据的抽样方法、电路仿真方法和电路分析方法。所述一种多维数据的抽样方法用于从电路参数的多维数据的集合中抽样多维数据以进行电路性能的后续计算。本发明通过以模型结构参数的已有数据集为基础，在预设的取值范围内增加数据，使得取值范围内所有数据的分布均匀。进一步地，本发明通过采用了基于已有数据集产生模型结构参数的数据均匀分布的抽样空间，解决了现有抽样方法未能有效利用已有数据集的问题，使得在电路仿真中，充分考虑了设计者目标参数值的情况，以及在计算资源有限时，以尽可能高效的方式保证电路的可靠性。

主权项：1.一种多维数据的抽样方法，用于从电路参数的多维数据的集合中抽样多维数据以进行电路性能的后续计算，其中，多维数据的每个维度对应一种电路参数，其特征在于，所述电路参数的多维数据的抽样方法包括：S1、获取已有的多维数据，并基于所获得的数据得到每个已有维度下的已有数据集；S2、获取一个或多个目标维度及其取值范围，并且对于每个目标维度，基于所有已有维度下的已有数据集和每个目标维度的取值范围获得每个目标维度下的已有数据集；S3、基于每个目标维度下的已有数据集和每个目标维度的取值范围，增加预设数量的数据，以构成每个目标维度的新数据集，使得相比于每个目标维度下的已有数据集，新数据集中的所有数据的分布在每个目标维度的取值范围内更均匀；S4、基于所有目标维度下增加的预设数量的数据构建多个新的多维数据，并从所述多个新的多维数据中抽样一个多维数据用于电路性能的后续计算；其中，基于每个目标维度下的已有数据集和每个目标维度的取值范围，增加预设数量的数据为：S221、将取值范围均匀划分为多个子区间，所述多个子区间的数量与数据的预设数量相同；S222、基于每个目标维度下的已有数据集，计算每个子区间内的已有数据数量；S223、确定已有数据数量最小的一个或多个子区间，并在所述一个或多个子区间内随机生成一个随机数据；S224、更新所有子区间内的已有数据数量，并判定所有子区间内的已有数据数量是否相同；S225、当所有子区间内的已有数据数量相同时，将待增加的剩余数据均匀增加在取值范围中；S226、当所有子区间内的已有数据数量不同时，判定累积增加的数据数量是否达到预设数量；S227、当累积增加的数据数量没有达到预设数量时，重复步骤S223-S227，否则停止增加数据。

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