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一种芯片检测用微操工作架 

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申请/专利权人:无锡领测半导体有限公司

摘要:本实用新型涉及芯片技术领域,尤其涉及一种芯片检测用微操工作架,一种芯片检测用微操工作架,包括底板,所述底板的上端安装有储盘,所述储盘的上端壁开设有盘腔,所述底板的左右两端壁均开设有滑口,所述滑口的内侧安装有滑块,所述滑块的顶端安置有立柱,所述立柱的侧端壁安装有侧片以及滑条,所述侧片的端壁穿设有螺钉,所述滑条的端侧安装有滑座,所述滑座的前端壁穿设有螺丝。本实用新型通过滑条和座口、座滑槽相活动,让滑座沿着立柱的竖直方向位移,改变滑座的高度位置,拧紧螺丝,用于对调节位置高度后的滑座锁紧限位,滑座侧端的座储板,用于存放检测前后的芯片,座储板设置有十二个,方便对芯片分类存放。

主权项:1.一种芯片检测用微操工作架,包括底板1,其特征在于,所述底板1的上端安装有储盘2,所述储盘2的上端壁开设有盘腔3,所述底板1的左右两端壁均开设有滑口4,所述滑口4的内侧安装有滑块5,所述滑块5的顶端安置有立柱6,所述立柱6的侧端壁安装有侧片7以及滑条9,所述侧片7的端壁穿设有螺钉8,所述滑条9的端侧安装有滑座10,所述滑座10的前端壁穿设有螺丝11,所述滑座10的中部穿设有座口12以及座滑槽13,所述滑座10远离立柱6的一侧端壁安装有座储板14。

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权利要求:

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